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非接觸半絕緣SiC電阻率測試儀
- 產品型號：GEST-201
- 更新時間：2021-05-20
- 產品介紹：非接觸半絕緣SiC電阻率測試儀主要通過四探針法測試單晶硅電阻率，具有自動定位的三坐標自動測量系統，可以自由設置測量點數量，自動測試完成，可以對測試出的數據進行2D成像，是智能化、集成化很高的晶圓電阻率測試儀器。
- 在線留言 010-57223838
產品介紹
產品名稱：全自動晶圓成像電阻率測試儀
一、產品概述
儀器采用了*電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。
二、儀器構成：
1、 高精度電阻率測試儀
3、 測試探頭
高精度電阻率測量儀：
1.1電阻率：0.00001～20000Ω.cm (可擴展)
1.3電阻：0.00001～20000Ω.cm；
2.1量程0.01mV-2000 mV
2.3 精度：±0.1% ；
3、恒流源：
3.2電流誤差：±0.5%
三坐標測試移動品臺：
2、X軸Y軸*小位移量：0.125MM
四探針測試電極：
上位機軟件測量成像系統
2、 測量點數：可以設定
4、 2D成像：測試完成后，可以立體成像
逐個試驗匯總列于附錄D。每只絕緣子上要標明制造廠的名稱或商標以及制造年份。此外，每只絕緣子上應標明額定機械負荷（SML）。這些標志應清晰和牢固。每只絕緣子都應進行外觀檢査。在絕緣件上安裝的金屬附件應符合圖樣。絕緣子的顏色應與圖樣上規定的接近。——面積不大于25mm£（但總缺陷面積不超過絕緣子總表面的0.2%）,并且深度小于1mm的表面缺陷。每只絕緣子應在環境溫度下，耐受相應于至少為50%額定機械負荷的逐個試驗負荷。
且持續至少10s。復合絕緣子機械拉伸負荷——時間試驗的背景和所收集到的試驗資料，在A.5參考文獻〔1〕中。通常，承受機械負荷的復合絕緣子的機械強度隨時間而降低，降低程序取決于負荷的大小和持續時間，這是由于芯棒所使用的材料與傳統的絕緣子相反，通常有蠕變的傾向。復合絕緣子的機械強度與負荷施加時間的對數關系曲線可以假定為一條具有負值斜率的直線。時間刻度按對數關系刻度。一等長區段的兩界限間的比為10（如1min?10min）。在線路的使用壽命內，施加到絕緣子上的負荷也可以用類似的方法表示為負荷——時間值。本試驗的目的是可以讓使用者檢驗在線路使用期，估計平均50年內預期負荷下絕緣子機械耐受——時間曲線的狀況。
——設計試驗:“芯棒負荷——時間試驗”，以檢驗絕緣子強度——時間曲線的大斜率（見5.2）；——型式試驗:“機械負荷——時間試驗”，此設計和型式試驗可以證實絕緣子的強度一時間曲線具有一個能接受的大斜率
非接觸半絕緣SiC電阻率測試儀
非接觸半絕緣SiC電阻率測試儀